• 熱膨脹係數測定儀使用方法

  熱膨脹係數測定儀(yi) 主要用於(yu) 測量材料的熱膨脹係數，以下是一般的使用方法：1. 樣品準備：準備需要測量的材料樣品。樣品可以是固體(ti) 、液體(ti) 或懸浮物。2. 儀(yi) 器設置：根據測量要求，設置儀(yi) 器的參數，如溫度範圍、升降速率等。確保儀(yi) 器處於(yu) 正常工作狀態。3. 樣品安裝：將樣品放置在儀(yi) 器的測量部位，確保樣品與(yu) 測量裝置接觸良好。4. 初始調整：將儀(yi) 器加熱並等待一段時間，使樣品溫度穩定在測量範圍內(nei) 。調整儀(yi) 器，使其達到穩定的

  2023-08-16 Vink 125

• 導熱係數測定儀校準規範

  導熱係數測定儀(yi) 校準規範主要包括以下幾個(ge) 方麵：1. 設備要求：導熱係數測定儀(yi) 應符合相關(guan) 標準或規範的要求，並具備必要的安全保護措施。儀(yi) 器應具有穩定的加熱源和溫度控製係統，以及靈敏準確的溫度和質量傳(chuan) 感器。2. 校準標準：選擇合適的校準標準物質，這些物質的導熱係數值應有可追溯性，通常是由權威機構或實驗室提供的認證標準。3. 校準方法：采用標準的校準方法進行校準，通常包括以下步驟： - 熱平衡校準：確保

  2023-08-15 Vink 130

• 熱天平工作原理

  熱天平是一種常用的熱學分析儀(yi) 器，用於(yu) 測量物質在升溫或降溫過程中的質量變化。其工作原理如下：1. 導熱機製：熱天平通過一個(ge) 穩定的加熱源（通常是電爐）提供熱能。加熱源將熱傳(chuan) 遞給稱量容器（通常是一個(ge) 采用特殊材料製成的蓋子），並通過導熱材料迅速傳(chuan) 遞給待測物質。2. 質量變化測量：當待測樣品吸收熱能時，其溫度升高並發生質量的變化。熱天平通過質量傳(chuan) 感器（如電子天平）測量這個(ge) 質量變化。3. 溫度控製：為(wei) 了保持待

  2023-08-14 Vink 160

• 示差掃描量熱計檢定規程

  示差掃描量熱計是一種常用的熱物性測試儀(yi) 器，用於(yu) 測量物質在升溫或降溫過程中的熱學性質變化。為(wei) 確保示差掃描量熱計的準確性和可靠性，需要進行定期的檢定。以下是一般的示差掃描量熱計檢定規程：1. 器件準備：確定需要檢定的示差掃描量熱計型號和規格，並準備相關(guan) 的檢定設備和標準物質。2. 初步檢查：檢查示差掃描量熱計的外觀、電源電壓、儀(yi) 器接線以及操作控製係統等，確保儀(yi) 器正常運行。3. 環境條件：確保檢定環境符合

  2023-08-11 Vink 167

• 頂空分析儀使用方法

  頂空分析儀(yi) 的使用方法一般包括以下步驟：1. 準備樣品：根據需要進行樣品準備。樣品可以是液態樣品或溶解在溶劑中的樣品。確保樣品瓶密封良好，避免氣體(ti) 泄露。2. 設置實驗條件：根據分析需求，設置儀(yi) 器的實驗條件，如溫度、稀釋氣體(ti) 、平衡時間等。這些參數的設定通常取決(jue) 於(yu) 樣品的性質和分析的目的。3. 進行頂空進樣：將樣品瓶插入頂空分析儀(yi) 的進樣口，並將樣品瓶與(yu) 儀(yi) 器連接。確保樣品瓶的密封良好。4. 開始頂空分析：啟

  2023-08-10 Vink 109

• 差熱分析儀測什麽

  差熱分析儀(yi) （Differential Thermal Analyzer，DTA）是一種常用的熱物性分析儀(yi) 器，它用於(yu) 測量物質在升溫或降溫過程中的熱學性質變化。差熱分析儀(yi) 主要測量以下兩(liang) 個(ge) 方麵的信息：1. 熱容量變化：差熱分析儀(yi) 可以測量物質在升溫或降溫過程中的熱容量變化。通過控製樣品和參比體(ti) 係（通常是一個(ge) 惰性物質）的溫度，測量兩(liang) 者之間的溫差。當樣品發生熱性質變化，例如相變、化學反應等時，樣品的熱容量會(hui) 發

  2023-08-09 Vink 101

• 圖像分析儀的作用

  圖像分析儀(yi) 是一種用於(yu) 對圖像進行處理和分析的儀(yi) 器或軟件工具。它可以幫助用戶提取、量化以及解釋圖像中的各種信息和特征。圖像分析儀(yi) 常用於(yu) 醫學影像分析、生物學研究、材料科學、計算機視覺等領域。圖像分析儀(yi) 的工作流程通常包括以下步驟：1. 圖像獲取：通過數字相機、掃描儀(yi) 等設備獲取待分析的圖像。2. 預處理：對圖像進行去噪、增強、濾波等預處理操作，以消除噪聲、改善圖像質量。3. 特征提取：通過圖像分析算法，提取

  2023-08-08 Vink 98

• 掃描探針顯微鏡的原理

  掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscopy，SPM）是一種高分辨率的顯微技術，可以用來觀察材料表麵的原子、分子以及納米級的結構。下麵是掃描探針顯微鏡的原理：1. 探測器和控製係統：掃描探針顯微鏡使用的探針（如原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡）隨機掃描樣品表麵，並測量樣品表麵的物理性質，如電勢、電磁力等。通過控製係統記錄和控製探測器的掃描軌跡和測量參數。2. 原理基礎：掃描探針顯

  2023-08-07 Vink 103